ＮＥＣが米指紋認証技術でも１位獲得　顔認証に続いて

　ＮＥＣは２１日、米国国立標準技術研究所（ＮＩＳＴ）が実施した指紋認証技術テストで１位の照合精度を獲得したと発表した。今回、米国の警察や政府機関などが採取した約１２万件の実運用データを使用した。さまざまな指の押し方や角度・種類の指紋画像を抽出して照合精度テストを行うことで、２つの指紋画像が同一かどうかを評価した。

　ＮＥＣは、画像ノイズを取り除く技術を強化し、平均照合精度が９９・４７％とトップの評価を獲得した。同社は今年６月にも、ＮＩＳＴの顔認証技術テストで照合エラー率と検索速度で１位を獲得している。

　国内外で、個人認証管理や、情報漏洩（ろうえい）対策として、より高精度に本人確認できるシステムの需要が高まっている。ＮＥＣは、認証技術の高さをアピールし、システムの販売をさらに拡大させたい考えだ。